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日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强壮解决方案
编辑:莱州知金测试仪器有限公司   发布时间:2018-10-12

    日立剖析仪器是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事剖析和丈量仪器的制作与销售业务的全资子公司。今天,日立剖析仪器为台式光谱仪系列新增强壮处理方案,以应对涂镀层职业的常见应战。

    FT系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用,其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。FT110A 和 FT150 系列为复杂形状的大型零件丈量以及小型特征超薄涂层丈量供给了新式处理方案。这两种仪器均属于台式 EDXRF(能量色散X射线荧光)光谱仪,具有功用强壮的软件和硬件,旨在进步样品剖析量,任何操作员都可取得高质量的成果。

轻松处理复杂样品

    FT110A 包含多个特征,用于丈量一般难以处理的零件。可装备全封闭或开槽门的大型腔室,可装入轿车零部件和装修五金件,与处理小型紧固件相同简单。主动对焦程序能够在离样品外表 80mm 的方位进行丈量,十分合适丈量洼陷区域或快速丈量不同高度的多个零件。主动挨近功用供给一键式定位功用,可将X射线组件设置在理想间隔,以取得有复验性的成果。宽视角摄像头将出现整个样品的图画,以便轻松定位所需的丈量方位。只需点击图画中的特征,它将主动对准进行剖析。

丈量纳米级的涂层

   日立剖析仪器产品司理 Matt Kreiner 表明:“遭到40年XRF镀层测厚仪研制经历启示,FT110A 和 FT150 使用的智能功用处理了涂镀层剖析中较难的一些应战。FT110A 的样品处理才能和 FT150 的微焦剖析才能补全了咱们全套涂镀层测厚仪系列,咱们很快乐为客户供给这些新式处理方案。”

   FT150 装备高端组件,能够供给精细结构上的超薄涂层的元素剖析。毛细聚集管聚集X射线束直径小于20μm,实现在样品上聚集更大强度,并丈量小于传统准直器可丈量的特征。高灵敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探测器(SDD)充分利用光学元件丈量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具有数字变焦功用的高清摄像头可快速定位样品特征,以进步样品剖析量。

布氏硬度计